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MFS-F
手動光學薄膜厚度量測儀
手動光學薄膜厚度量測儀
| 量測功能 | 薄膜厚度、反射率、色度 |
| 系統模式 | 反射式光纖 或 反射式積分球（8/D, D/8Selective） |
| 波長範圍 | 400-850nm |
| 量測膜厚範圍 | 300-400,000 Angstrom |
| 準確度 | ±1% |
| 重複性 | ±1% |
| 量測速度 | 少於1秒 |
| 量測光源 | 高瓦數鹵素燈源 |
| 適用樣品 | 光學鍍膜 (玻璃,丙烯酸,PET,矽晶圓SiO2,ITO,ZnO,CuO) 藍寶石GaN,彩色濾片,太陽能電池,偏光鏡等 |
| 系統平台 | 固定平台、x-y stage、自動平台 亦可客製化樣品台 |
| 選購 | 顯微鏡、色差量測軟體 |
